扫描自旋进动显微镜的实验演示
介观与纳米尺度物理
2015-12-17 v1
摘要
自旋电子学的进步得益于针对某些典型材料定制的表征工具。新的器件结构和材料将需要与材料无关、具有足够分辨率以成像局部变化自旋属性并能实现次表面成像的表征工具。在此，我们报告了一种新型自旋显微镜工具的演示，该工具基于全局自旋进动信号随扫描探针局部磁场变化的响应。我们利用这种空间平均信号，以 5.5 微米的分辨率绘制了光泵浦 GaAs 中的局部自旋密度。该方法也适用于其他自旋属性，且其分辨率可进一步提高。由于自旋与探针之间磁相互作用的普适性，它可将自旋显微镜扩展到其他技术无法触及的器件结构，如埋藏界面和非光活性材料。
引用
@article{arxiv.1211.7118,
title = {Experimental Demonstration Of Scanned Spin-Precession Microscopy},
author = {V. P. Bhallamudi and C. S. Wolfe and V. P. Amin and D. E. Labanowski and A. J. Berger and D. Stroud and J. Sinova and P. C. Hammel},
journal= {arXiv preprint arXiv:1211.7118},
year = {2015}
}
备注
Supplementary information added at the end of the main article. Main article: 6 pages 5 figures, Supplementary: 9 pages, 6 figures. The original files are PDFLatex