纳米体系中光探测自旋噪声的理论
介观与纳米尺度物理
2020-10-30 v1
摘要
本文综述了低维系统与块体半导体中的自旋噪声理论。自旋噪声通常通过光学手段探测，即连续测量穿过样品的探测光束的偏振面旋转角。自旋噪声谱可提供关于体系自旋性质的丰富信息，包括例如载流子的因子、自旋弛豫时间、超精细相互作用参数、自旋轨道相互作用常数、光学共振的频率与宽度。本综述描述了自旋噪声的基本模型、其理论描述方法，以及它们与实验结果的联系。我们还讨论了自旋噪声谱学、强与弱量子测量以及自旋翻转拉曼散射之间的关系，并分析了类似效应，包括电荷、电流与谷极化涨落在光学响应中的表现。文中概述了自旋噪声谱学进一步发展的可能方向。
引用
@article{arxiv.2010.15763,
title = {Theory of optically detected spin noise in nanosystems},
author = {D. S. Smirnov and V. N. Mantsevich and M. M. Glazov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2010.15763},
year = {2020}
}
备注
Accepted to Phys. Usp. The original manuscript in Russian is available in the supplementary files at arXiv and at this URL: https://www.dropbox.com/s/kz5uyz3btgocf8l/UFN_spin_noise_review_rus.pdf?dl=1