暗区选择性 $f(R,T_{\chi})$ 引力中的线性扰动与多探针诊断

我们发展了一种暗区选择性迹线耦合引力模型，其中物质-曲率耦合仅依赖于暗物质能动量张量的迹线 $T_{\chi}$，该张量由规范暗物质场 $\chi$ 定义。这种构建提供了微观指定的迹线子系统，消除了 $f(R,T)$ 类模型通常存在的物质-拉格朗日歧义，并通过设计保留可见物质的最小耦合。我们推导了完整的场方程、精确的暗区交换结构以及准线性标量扰动系统的规范化形式。在亚尺度尺度下，我们推导了支配结构增长和光线偏折的有效修改引力函数，并表明该模型在生长和透镜可观测量中普遍产生尺度和时间依赖的偏离广义相对论的相关变化。基于此结构，我们构建了一个以红移空间扭曲、弱透镜和 CMB 透镜为基础的扰动聚焦的多探针框架，显式针对背景扩张测试之外的消除歧义。该分析确立了该模型在作用量层面和扰动层面的基础，并为在暗区选择性修改引力环境下进行线性规模约束提供了保守且可复现的框架。