基于 X 射线衍射技术的 Inconel 625 晶格错差测量
材料科学
2007-05-23 v1
摘要
确定 Inconel-625 中均匀相的晶格错差和微观参数是一个具有挑战性的问题，因为它们的峰值彼此完全重叠，甚至与基体重叠。我们对 Inconel 625 在不同热处理条件下的 bulk 样品采用一种新型 X 射线衍射技术，以确定晶格参数、均匀相与基体之间的晶格错差，以及类似尺寸和应变等微观参数。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/0604222,
title = {Lattice Misfit Measurement in Inconel 625 by X-Ray Diffraction Technique},
author = {P. Mukherjee and A. Sarkar and P. Barat and T. Jayakumar and S. Mahadevan and Sanjay K. Rai},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0604222},
year = {2007}
}