扫描式三劳厄X射线干涉测量中的离焦行移条纹
光学
2022-02-17 v1 仪器与探测器
摘要
利用分体晶体三劳厄X射线干涉仪测量硅晶格常数是通过计数原子实现千克定义的关键步骤。由于测量精度正逼近九位有效数字，需要可靠的干涉仪运行模型来量化或排除系统误差。本文从解析与实验两方面研究了离焦（即分束器到镜面距离与分析器到镜面距离之间的差异）对干涉条纹相位及晶格常数测量的影响。
引用
@article{arxiv.2104.06288,
title = {Defocused travelling-fringes in scanning triple-Laue x-ray interferometry},
author = {Carlo P. Sasso and Giovanni Mana and Enrico Massa},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.06288},
year = {2022}
}