高能电子在多箔靶中的K壳层电离与特征X射线辐射
原子物理
2020-12-30 v1 高能物理 - 理论
摘要
本文研究了高能电子穿过多箔铜靶时发生的K壳层电离及伴随的特征X射线辐射(CXR)过程。推导了描述这些过程主要特征的表达式。结果表明，靶中平均K壳层电离截面不仅由靶材料和电子能量决定，还取决于靶中箔片数量、箔片厚度及其间距。因此相应的CXR产额并非仅由靶的累积厚度唯一确定，同样依赖于上述参数。研究表明，多箔靶中的平均K壳层电离截面可比不考虑密度效应影响的该过程常规截面大数倍。这导致相比于电子入射到相同累积厚度的单箔情形，多箔靶的CXR产额显著增强。并将所考虑情形下的CXR产额与多箔靶中其他几类X射线发射的产额进行了比较。
引用
@article{arxiv.2010.05326,
title = {K-shell ionization and characteristic x-ray radiation by high-energy electrons in multifoil targets},
author = {S. V. Trofymenko},
journal= {arXiv preprint arXiv:2010.05326},
year = {2020}
}
备注
11 pages, 5 figures