低剂量原位扫描透射电子显微术中迭代性ptychography收敛性研究
材料科学
2025-09-29 v2 应用物理
仪器与探测器
摘要
本研究考察了在低电子剂量（<10^3 e^-/Å^2）下，迭代电子ptychography方法的收敛性，并特别关注用户定义的更新强度的影响。我们证明，对于实现投影电容器势的准确重建，必须选择适当的值进行该参数设置，理想情况下应小于文献中常用的值。在对薄质的混合有机-无机氟乙酰锌溴物（FAPbBr_3）样品进行4D数据集测试时，我们显示，只有当对象和探针的更新强度均小于文献中所见的值时，收敛才在实践中可实现。此外，我们在低电子剂量下表明，当更新强度系数低于某个阈值后，重建初始误差会增加，这突显了算法在局部极小值陷阱中的临界值。这些发现凸显了在低电子剂量下进行迭代ptychography时，必须仔细优化重建参数的必要性，以确保有效收敛和结果的正确性。
关键词
引用
@article{arxiv.2507.06756,
title = {Investigating the convergence properties of iterative ptychography for atomic-resolution low-dose imaging},
author = {Tamazouzt Chennit and Songge Li and Hoelen L. Lalandec Robert and Christoph Hofer and Nadine J. Schrenker and Liberato Manna and Sara Bals and Timothy J. Pennycook and Jo Verbeeck},
journal= {arXiv preprint arXiv:2507.06756},
year = {2025}
}