探索一种稳健自测试两量子比特纠缠态的方法
量子物理
2025-02-11 v3
摘要
在最近的论文[Quantum 5, 552 (2021)]中，作者提出了一种稳健自测试可偏转量子装配体的框架。本文将其方法应用于两量子比特纠缠量子态的自测试场景。与其他方法相比，本文给出的对参考态保真度的新边界进行了比较。
引用
@article{arxiv.2409.04347,
title = {Investigating an approach of robustly self-testing two-qubit entangled states},
author = {Chan-Ching Lien and Shin-Liang Chen},
journal= {arXiv preprint arXiv:2409.04347},
year = {2025}
}
备注
8 pages, 6 figures, published version