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任意纯两量子比特纠缠态的单边设备无关自测试的的实验演示

量子物理 2020-05-06 v1

摘要

我们基于细粒度导引不等式演示了任意纯纠缠两量子比特态的单边设备无关自测试。细粒度导引不等式的最大违背可用于见证某些可导引关联,这些关联认证所有纯两量子比特纠缠态。我们的实验结果确定了哪个特定的纯两量子比特纠缠态被自测试,以及在不被信任方使用了哪些测量算符。此外,我们解析推导了协议的鲁棒性界,使我们后续能通过态层析实验验证鲁棒性。最后,我们确保实验中维持了必需的无信令约束。

关键词

引用

@article{arxiv.2001.10207,
  title  = {Experimental demonstration of one-sided device-independent self-testing of any pure two-qubit entangled state},
  author = {Zhihao Bian and A. S. Majumdar and C. Jebaratnam and Kunkun Wang and Lei Xiao and Xiang Zhan and Yongsheng Zhang and Peng Xue},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2001.10207},
  year   = {2020}
}

备注

12 pages, 8 figures, accepted version