层析与自检测在纠缠认证中的实验比较

我们使用标准层析以及受设备无关自检测启发的方法，评估一个声称产生纯两量子比特态的源的质量。即便探测漏洞与定域性漏洞敞开，后一类方法也无需对系统与测量进行建模。然而，由于有限样本涨落，所估计的概率分布通常并不精确满足无信号条件。我们实现了对这些涨落具有鲁棒性的数据分析。我们展示了自检测估计的保真度与完整层析估计的保真度之间的高比值 $f_s/f_t\approx 0.988$，证明了自检测方法的高性能。