利用非投影测量对纯纠缠两qutrit态进行最大随机性的设备无关认证
量子物理
2022-03-14 v1
摘要
尽管最近已证明如何以设备无关的方式从任意纯两qubit纠缠态认证最大随机性[E. Woodhead et al., Phys. Rev. Research 2, 042028(R)(2020)]，但从更高局域维度的纠缠态进行最优随机性认证的问题仍然开放。在此，我们引入一种方法，利用纯二分纠缠两qutrit态和极端的九结果一般非投影测量，以设备无关的方式认证最大可能量的 随机比特。为此，我们利用了最近在[S. Sarkar et al., arXiv:2110.15176]中引入的扩展Bell情景，该情景结合了用于三维Hilbert空间中完整Weyl-Heisenberg基认证的设备无关方法，以及用于两qutrit部分纠缠态认证的单边设备无关方法。
引用
@article{arxiv.2201.08649,
title = {Device-independent certification of maximal randomness from pure entangled two-qutrit states using non-projective measurements},
author = {Jakub Jan Borkała and Chellasamy Jebarathinam and Shubhayan Sarkar and Remigiusz Augusiak},
journal= {arXiv preprint arXiv:2201.08649},
year = {2022}
}
备注
9 pages, 1 figure