非投影量子比特测量的设备无关认证
量子物理
2016-12-22 v2
摘要
两能级系统上的量子测量可以具有多于两个独立结果，此时该测量不能是投影式的。这类通用测量对量子理论的运算方法至关重要，但迄今为止，测量的非投影特性只能通过在实验中已假设装置部分特定量子模型来实验验证。在此，我们通过使用设备无关方法克服了这一限制。在偏振纠缠光子对量子比特的实验中，我们以超过8个标准偏差违背了一个在所有维度下任意两组两结果测量均成立的类贝尔关联不等式。我们将其与系统最好由两个量子比特描述的设备无关验证相结合，从而构成了首个非投影量子测量的设备无关认证。
引用
@article{arxiv.1604.01417,
title = {Device-Independent Certification of a Nonprojective Qubit Measurement},
author = {Esteban S. Gómez and Santiago Gómez and Pablo González and Gustavo Cañas and Johanna F. Barra and Aldo Delgado and Guilherme B. Xavier and Adán Cabello and Matthias Kleinmann and Tamás Vértesi and Gustavo Lima},
journal= {arXiv preprint arXiv:1604.01417},
year = {2016}
}
备注
6 pages, 3 figures. Published version