量子测量的设备无关检验
量子物理
2017-06-26 v2
摘要
我们考虑了表征任意给定量子测量可生成的输入-输出关联集合的问题。我们的主要结果是针对任意量子比特测量提供了此类集合的闭式完整表征，并讨论了其几何解释。作为应用，我们进一步将结果具体化到在存在各向同性噪声的情况下，量子比特的实和复对称信息完备测量以及互偏基的情形。我们的结果提供了量子测量的最优设备无关检验。
引用
@article{arxiv.1609.07846,
title = {Device-independent tests of quantum measurements},
author = {Michele Dall'Arno and Sarah Brandsen and Francesco Buscemi and Vlatko Vedral},
journal= {arXiv preprint arXiv:1609.07846},
year = {2017}
}
备注
5 + 2 pages, no figures