测量设备无关且任意损耗容忍的量子导引验证

我们提出了一种在两比特态存在任意数量零结果时验证量子导引的方法，此时导引方与被导引方均不可被信任。我们将近期一篇文章[Phys. Rev. X 2, 031003 (2012)]中提出的导引不等式转化为相应的测量设备无关导引判据，该判据依赖于导引方的预告效率、测量设置数目以及态制备的不完美性。结果表明，对于有效测量结果的相对频率 $\eta_H$，可使用多于 $1/\eta_H$ 个不同测量设置以及最大纠缠态来验证导引。此外，只要被导引方的测量效率非零，即可保证可导引性。我们的结果对损耗容忍且测量设备无关的导引任务具有实用价值。