铜氧化物中电荷-晶格相互作用与强电子关联的相互影响：声子反常与谱扭折

我们研究了铜氧化物中强电子关联与电荷-晶格相互作用之间的相互影响。通过有限声子基精确对角化方法，研究了t-t'-J模型中半呼吸键伸长声子与掺杂空穴的耦合。非绝热电子-声子相互作用导致声子谱函数在半途至布里渊区边界的$\vec{q}_s=\{(\pm \pi / 2, 0), (0, \pm \pi / 2) \}$处发生分裂，并导致电子色散中出现低能扭折特征，这与实验观测一致。在更高能量处观察到了由强电子关联效应引起的另一个扭折，其位置取决于电荷-晶格耦合的强度。