从受背景影响的小样本推断二项模型的成功参数 p
数据分析、统计与概率
2007-05-23 v1 天体物理学
摘要
回顾了从 n 次试验中获得的 x 次成功来推断二项参数 p 的问题，并将其扩展到考虑背景存在的情况。背景可能以两种方式影响数据：a) 虚假成功是由已知强度的泊松过程建模的背景产生的；b) 虚假试验是由已知强度的泊松过程建模的背景产生的，每次试验具有已知的成功概率 。
引用
@article{arxiv.physics/0412069,
title = {Inferring the success parameter p of a binomial model from small samples affected by background},
author = {G. D'Agostini},
journal= {arXiv preprint arXiv:physics/0412069},
year = {2007}
}
备注
24 pages, 12 figures. This paper and related work are also available at http://www.roma1.infn.it/~dagos/prob+stat.html