使用带标签技术在 $Z^0$ 极点精确测量 $A_b$ 与 $A_c$
高能物理 - 实验
2008-11-26 v3
摘要
利用 极点处偏振截面截率的极化角依赖性，直接测量了 与 耦合的偏振失效率参数 和 。通过其半衰变对底子和夸克进行标签。无论是电子分析还是μ子分析都采用了新的多变量技术以提高鉴别功效。基于 1993-98 年 SLD 样本中 55 万个高度偏振电子束产生的 衰变，我们测得 ，。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0111035,
title = {Improved Direct Measurement of $A_b$ and $A_c$ at the $Z^0$ Pole Using a Lepton Tag},
author = {SLD Collaboration and Kenji Abe},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0111035},
year = {2008}
}
备注
14 pages, 2 figures, to be submitted to Physical Review Letters. Version two contains changes to meet suggestions of reviewers. Version three corrects a problem in Figure 2 that I hadn't noticed