使用顶点/卡冶 charge 标签直接测量 $A_b$ 和 $A_c$
高能物理 - 实验
2008-11-26 v2
摘要
利用 SLC 电子束极化的可调特性，我们报告了对 Z 介子 - 阴离子/ Z 介子 - 中子耦合中奇偶违规参数 和 的精确直接测量。通过独特算法实现夸克/反夸克区分，该算法充分利用了 SLD CCD 顶点探测器的精度，采用位移顶点净电荷以及来自这些顶点的卡冶电荷。基于 1996-98 年收集的 40 万个 Z 衰变样本（平均束流极化为 73.4%），我们测得 （统计）（系统）和 （统计）（系统）。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0410042,
title = {Direct Measurements of A_b and A_c using Vertex/Kaon Charge Tags at SLD},
author = {SLD Collaboration and K. Abe},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0410042},
year = {2008}
}
备注
11 pages, 2 figures, 2 tables, to be submitted to Physical Review Letters; version 2 reflects changes suggested by the referee