Ke4衰变性质的高统计量测量

S. Pislak; R. Appel; G. S. Atoyan; B. Bassalleck; D. R. Bergman; N. Cheung; S. Dhawan; H. Do; J. Egger; S. Eilerts; H. Fischer; W. Herold; V. V. Issakov; H. Kaspar; D. E. Kraus; D. M. Lazarus; P. Lichard; J. Lowe; J. Lozano; H. Ma; W. Majid; A. A. Poblaguev; P. Rehak; A. Sher; Aleksey Sher; J. A. Thompson; P. Truöl; M. E. Zeller

doi:10.1103/PhysRevD.67.072004

Ke4衰变性质的高统计量测量

高能物理 - 实验 2008-11-26 v1

作者: S. Pislak , R. Appel , G. S. Atoyan , B. Bassalleck , D. R. Bergman , N. Cheung , S. Dhawan , H. Do , J. Egger , S. Eilerts , H. Fischer , W. Herold , V. V. Issakov , H. Kaspar , D. E. Kraus , D. M. Lazarus , P. Lichard , J. Lowe , J. Lozano , H. Ma , W. Majid , A. A. Poblaguev , P. Rehak , A. Sher , Aleksey Sher , J. A. Thompson , P. Truöl , M. E. Zeller

在 arXiv 上查看 ↗ PDF ↗ DOI ↗

摘要

我们报告了对K+ -> pi+pi-e+nue (Ke4)衰变的新测量的实验细节和结果。实验865收集了超过40万个Ke4事件，背景极低。从这些数据中，提取了分支比率 $(4.11+-0.01+-0.11)\times 10^{-5}$ ，以及弱 hadronic 电流形式因子F、G和H的pi-pi不变质量依赖性，以及pi-pi散射的相位差delta00-delta11。利用基于分析性和手征对称性的约束，还获得了s波pi-pi散射长度a00一个相当准确的新值：a00=0.216+-0.013 (stat.)+-0.002(syst.)+-0.002(theor.)。

关键词

Ke4衰变分支比率形式因子 π-π散射相位差手征对称性

引用

@article{arxiv.hep-ex/0301040,
  title  = {High statistics measurement of Ke4 decay properties},
  author = {S. Pislak and R. Appel and G. S. Atoyan and B. Bassalleck and D. R. Bergman and N. Cheung and S. Dhawan and H. Do and J. Egger and S. Eilerts and H. Fischer and W. Herold and V. V. Issakov and H. Kaspar and D. E. Kraus and D. M. Lazarus and P. Lichard and J. Lowe and J. Lozano and H. Ma and W. Majid and A. A. Poblaguev and P. Rehak and A. Sher and Aleksey Sher and J. A. Thompson and P. Truöl and M. E. Zeller},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0301040},
  year   = {2008}
}

备注

15 pages, 10 figures, submitted to Phys. Rev. D

Ke4衰变性质的高统计量测量

摘要

关键词

引用

备注

相关论文