Ke4 衰变与 K+- -> pi0 pi0 pi+- 衰变的测量
高能物理 - 实验
2017-08-23 v2
摘要
NA48/2 实验在 2003 和 2004 年收集了大量 K+- -> pi+ pi- e+- nu (Ke4+-)、K+- -> pi0 pi0 e+- nu (Ke400) 以及 K+- -> pi0 pi0 pi+- 衰变的数据。从 Ke4+- 的电子-夸克形成因以及从 K+- -> pi0 pi0 pi+- 事件中 M00^2 分布中的光点处，可提取出 pi-pi 散射长度 a00 和 a20。该测量是 Chiral 扰动理论 (ChPT) 的基本检验。对 Ke400 衰变的分支比和形成因进行了精确测量，所用数据样本比以前的实验大得多。
引用
@article{arxiv.hep-ex/0610071,
title = {Measurements of Ke4 and K+- -> pi0 pi0 pi+- decays},
author = {L. Masetti},
journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0610071},
year = {2017}
}
备注
Talk given at the ICHEP06 conference; v2: Corrected reference page and typo