利用稀疏网格随机配点与张量列分解进行电热场问题的高维不确定性量化
计算工程、金融与科学
2019-06-26 v4 数值分析
摘要
集成电路 (ICs) 键合线中所产生的温度是导致故障的可能原因,必须在 IC 的设计阶段予以考虑。由于制造公差,键合线的几何特征是不确定参数,因此必须使用不确定性量化 (UQ) 方法来检验其影响。诸如 Monte Carlo (MC) 之类的采样方法收敛缓慢,而高效的替代方法则随所考虑不确定性数量的增加而扩展性变差。为寻求对所谓维度灾难的补救,人们探索了在稀疏网格 (SGs) 上应用随机配点 (SC) 以及近期出现的低秩张量分解方法,重点是张量列 (TT) 分解。
引用
@article{arxiv.1610.03863,
title = {High Dimensional Uncertainty Quantification for an Electrothermal Field Problem using Stochastic Collocation on Sparse Grids and Tensor Train Decompositions},
author = {D. Loukrezis and U. Römer and T. Casper and S. Schöps and H. De Gersem},
journal= {arXiv preprint arXiv:1610.03863},
year = {2019}
}