Au涂层SiOx衬底上的石墨烯：其芯级光电子显微谱研究
介观与纳米尺度物理
2015-06-05 v1
摘要
利用同步辐射光电子能谱（SR-PES）在微米尺度上研究了Au涂层SiOx衬底上剥离石墨烯片的芯级电子结构。首先通过显微光学表征证明了石墨烯在Au涂层SiOx衬底上的可见性，然后进行SR-PES研究。由于消除了充电效应，精确的C 1s芯级表征清楚地显示了石墨烯的石墨态和污染碳态。还通过C 1s芯级位移检查了Au涂层诱导的单层和双层石墨烯片上不同程度的p型掺杂。Au涂层SiOx衬底可视为一个简单但高通量的平台，用于通过PES原位研究进一步杂化下的石墨烯。
引用
@article{arxiv.1205.5117,
title = {Graphene on Au-coated SiOx substrate: Its core-level photoelectron micro-spectroscopy study},
author = {Jhih-Wei Chen and Chiang-Lun Wang and Hung Wei Shiu and Chi-Yuan Lin and Chen-Shiung Chang and Forest Shih-Sen Chien and Chia-Hao Chen and Yi-Chun Chen and Chung-Lin Wu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1205.5117},
year = {2015}
}