石墨烯的近边 X 射线吸收精细结构研究

D. Pacilé; M. Papagno; A. Fraile Rodríguez; M. Grioni; L. Papagno; Ç. Ö. Girit; J. C. Meyer; G. E. Begtrup; A. Zettl

doi:10.1103/PhysRevLett.101.066806

石墨烯的近边 X 射线吸收精细结构研究

材料科学 2009-11-13 v1

作者: D. Pacilé , M. Papagno , A. Fraile Rodríguez , M. Grioni , L. Papagno , Ç. Ö. Girit , J. C. Meyer , G. E. Begtrup , A. Zettl

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摘要

我们报道了通过在 SiO2 衬底上微机械剥离高定向热解石墨 (HOPG) 获得的单层石墨（石墨烯）的近边 X 射线吸收精细结构 (NEXAFS) 谱。我们利用光发射电子显微镜 (PEEM) 分别研究了单层、双层和少层石墨烯 (FLG) 样品。在单层石墨烯中，我们观察到了 pi* 共振的分裂以及预测的层间态的清晰特征。NEXAFS 数据说明了电子结构随层数增加而发生的快速演变。

关键词

石墨烯近边 X 射线吸收精细结构 NEXAFS 光发射电子显微镜 PEEM 电子结构 pi* 共振层间态

引用

@article{arxiv.0805.2269,
  title  = {Near-edge x-ray absorption fine structure investigation of graphene},
  author = {D. Pacilé and M. Papagno and A. Fraile Rodríguez and M. Grioni and L. Papagno and Ç. Ö. Girit and J. C. Meyer and G. E. Begtrup and A. Zettl},
  journal= {arXiv preprint arXiv:0805.2269},
  year   = {2009}
}

备注

5 pages, 4 figures

石墨烯的近边 X 射线吸收精细结构研究

摘要

关键词

引用

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