中文

半填充Hubbard模型中的有限温度阻挫效应

强关联电子 2020-05-13 v2

摘要

我们利用半经典近似方案,研究了二维半填充Hubbard模型在存在(阻挫性的)次近邻跃迁(tt^{\prime})和现场相互作用(UU)时的有限温度性质。我们表明,引入tt^{\prime}会导致一个有限温度赝能隙(PG)相,该相分隔了小UU费米液体和大UU莫特绝缘体。我们绘出了PG到正常金属的跨界温度标度(TT^*)随UUtt^\prime的函数关系。我们证明,在PG相中,电阻率的二次温度依赖关系因热诱导自旋涨落而被破坏。最后我们通过精确对角化计算作结,其补充了我们的有限温度结果,并表明在零温下费米液体与莫特绝缘体之间也存在阻挫驱动的PG态。

关键词

引用

@article{arxiv.1902.04241,
  title  = {Frustration effects at finite temperature in the half filled Hubbard model},
  author = {Gour Jana and Anamitra Mukherjee},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1902.04241},
  year   = {2020}
}