硅光子掺杂计量统计中后脉冲和串扰事件的一次统计量
仪器与探测器
2025-11-07 v1 高能物理 - 实验
摘要
本文简要介绍了一种用于描述一次检测事件时间分布的方法,这些事件在来自混合相关暗计数过程的一次雪崩击穿后被检测到。该方法适用于描述散粒探测器时间分辨率的著名统计量方法,被应用于相关事件的到达时间。将已知的串扰模型扩展为分支泊松过程,用于后脉冲,并从其种子开始考虑相关事件——即能够触发二次雪崩击穿的自由(解离或扩散)电荷载流子。该方法的提出性质使我们能够提取延迟串扰和后脉冲事件混合暗计数的计时信息,并预测随着种子数量的增加,首次到达时间分布会变窄,这对应于相关事件概率的提高。
引用
@article{arxiv.2511.04443,
title = {First order statistic of afterpulsing and crosstalk events in SiPMs},
author = {Sergey Vinogradov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2511.04443},
year = {2025}
}
备注
5 pages, 2 figures