由表面杂质引起的超导射频腔的场依赖表面电阻
加速器物理
2015-08-19 v2
摘要
Q-slope问题由场依赖表面电阻引起，在SRF领域长期困扰人们。在本文中，我们将Q-slope与表面处理联系起来；并提出了一种表面杂质模型来解释SRF腔体的场依赖表面电阻。已分析十八个腔体测试结果以检验该模型。这些腔体通过不同工艺处理：氮掺杂；BCP和HF冲洗；带120{\deg}C烘烤的EP；不带120{\deg}C烘烤的EP。这些腔体的性能通常由腔体品质因数相对于加速梯度或表面磁场曲线（Q0 vs. Eacc或Q0 vs. B）表示，已包含所有类型的Q-slope，例如低场Q-slope、中场Q-slope和反Q-slope。数据拟合相当成功；将展示拟合结果。该模型可用于评估表面处理的有效性。最后，本文讨论了构建高Q高梯度SRF腔体的方法。
引用
@article{arxiv.1507.08704,
title = {Field-dependent surface resistance of a superconducting RF cavity caused by surface impurity},
author = {M. Ge and F. Furuta and M. Liepe and G. Hoffstaetter},
journal= {arXiv preprint arXiv:1507.08704},
year = {2015}
}
备注
7 pages, 12 figures