利用 SRF 腔内部温度从表面电阻率提取超导参数
加速器物理
2014-05-19 v1
摘要
射频超导体的表面电阻取决于表面温度、剩余电阻以及各种超导参数，例如能隙和电子平均自由程。这些参数可以通过在不同温度的氦浴中测量超导射频 (SRF) 腔的品质因数 Q0 来确定。虽然可以从 Q0 计算任何腔体几何结构的表面电阻，但当仅知道氦浴温度时，确定表面温度并非易事。传统上，近似认为腔体内表面的表面温度与氦浴温度相同。这在表面射频场较小时是一个很好的近似，但为了确定 Rs 的场依赖性，不能仅限于小场损耗。本文展示了以下内容：(1) 如何利用计算机模拟确定内部温度 Tin，以便随后使用 Rs(Tin) 提取超导参数。该计算机代码结合了众所周知的 HEAT 程序和 SRIMP 程序。(2) 假设表面温度与氦浴温度相同时会产生多大的误差？结果表明，在典型情况下，高射频场时的该误差至少为 10%。
引用
@article{arxiv.1405.4226,
title = {Extracting superconducting parameters from surface resistivity by using inside temperatures of SRF cavities},
author = {M. Ge and G. Hoffstaetter and H. Padamsee and V. Shemelin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1405.4226},
year = {2014}
}