基于复合折射透镜的 X 射线显微镜模拟的扩展形式体系
光学
2016-02-09 v1
摘要
我们提出了一种全面的形式体系，用于模拟和优化 CRL 在聚光和全视场成像配置中的性能。该方法扩展了光线传输矩阵分析，以考虑透镜材料对 X 射线的衰减。对于薄透镜和厚透镜成像几何，我们提供了关键成像参数（如数值孔径、渐晕、色差和焦距）的闭式解析表达式。
引用
@article{arxiv.1602.02703,
title = {Extended formalism for simulating compound refractive lens-based x-ray microscopes},
author = {Hugh Simons and Sonja Rosenlund Ahl and Henning Friis Poulsen and Carsten Detlefs},
journal= {arXiv preprint arXiv:1602.02703},
year = {2016}
}
备注
11 pages, 1 figure