波动步骤的实验持久概率

通过分析 770 到 970K 范围内温度下，Si(111) $(\sqrt3 \times \sqrt3)R30^{0} - Al$ 表面上波动步骤的时间依赖 STM 图像，确定了该表面上波动步骤的持久行为。测量得到的持久概率遵循幂律衰减，指数为 $\theta=0.77 \pm 0.03$。这与针对附着/脱离受限步骤动力学预测的 $\theta=3/4$ 值一致。如果持久分析是以相对于固定参考位置的方式进行的，则测得的持久概率呈指数衰减。用于模拟步骤运动的 Langevin 方程的数值研究与实验观察相吻合。