对 underdoped Y-123 中带电临界涨落的证据
超导电性
2007-05-23 v1
摘要
我们报告并分析了在 YBa2Cu3O7-x 接近临界温度 Tc 时进行的平面渗透深度测量。在 underdoped YBa2Cu3O6:59 中，我们发现对带电临界行为的一致证据。由于有效无量级电荷随 Tc 成 1/√(Tc) 缩放，这种新的临界行为应在合适的弱配体 cuprate 中普遍可观测。
关键词
引用
@article{arxiv.cond-mat/0406691,
title = {Evidence for charged critical fluctuations in underdoped Y-123},
author = {T. Schneider and R. Khasanov and K. Conder and E. Pomjakushina and R. Bruetsch and H. Keller},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/0406691},
year = {2007}
}
备注
5 pages, 4 figures