错误相关电位变异性：探究其对分类与可迁移性的影响
人机交互
2025-07-11 v1 人工智能
摘要
脑机接口（BCI）已实现大脑与外部应用之间的直接通信，用于自动检测诸如错误识别等认知过程。错误相关电位（ErrPs）是当个体犯下或观察到错误事件时所引发的一类特定脑信号。然而，由于大脑与记录设备的噪声特性，ErrPs 因与其他多种脑信号、生物噪声及外部噪声相混杂而呈现出实例间的差异，使得 ErrPs 的分类成为一项非平凡问题。近期研究揭示了意识、具身性和预测性等特定认知过程对 ErrP 变异有贡献。本文中，我们探究了在针对给定任务改变意识与具身性水平所生成的不同 ErrP 变异数据集上训练时，分类器的可迁移性表现。具体而言，我们考察了在相似与不同任务所诱发的观察型与交互型 ErrP 类别之间的迁移。我们的实证结果从数据视角对 ErrP 可迁移性问题提供了探索性分析。
引用
@article{arxiv.2301.06555,
title = {Error-related Potential Variability: Exploring the Effects on Classification and Transferability},
author = {Benjamin Poole and Minwoo Lee},
journal= {arXiv preprint arXiv:2301.06555},
year = {2025}
}
备注
Published in 2022 IEEE Symposium Series on Computational Intelligence (SSCI)