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非晶硅纳米颗粒中增强的多激子产生

介观与纳米尺度物理 2014-11-25 v1

摘要

基于密度泛函理论 (DFT) 模拟的多体微扰理论 (MBPT) 计算表明,纳米级氢钝化硅纳米线 (NWs) 和准二维纳米薄膜中的多激子产生 (MEG) 强烈依赖于核心结构无序的程度。在电子 - 光子耦合和屏蔽库仑相互作用中工作至二阶,我们计算了量子效率 (QE),即单个吸收光子产生的平均激子数,针对具有晶体和非晶核心结构的 Si29H36{\rm Si}_{29}{\rm H}_{36} 量子点 (QDs)、由这些 QDs 构建的简单立方三维阵列、晶体和非晶 NWs,以及同样具有晶体和非晶结构的准二维硅纳米薄膜。预测在这些纳米颗粒中(除了晶体 NW 和晶体薄膜,其 QE1QE\simeq 1 外),在约为 3Eg3E_g 的光子能量处(其中 EgE_g 为电子带隙),存在效率为 1.3 至 1.8 的高效 MEG。非晶纳米颗粒中的 MEG 因结构无序导致的电子局域化而增强。结合较低的带隙,预测纳米级非晶硅 NWs 和薄膜在太阳光谱范围内具有有效的载流子倍增。

关键词

引用

@article{arxiv.1411.6161,
  title  = {Enhanced Multiple Exciton Generation in Amorphous Silicon Nanoparticles},
  author = {Andrei Kryjevski and Dmitri Kilin},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1411.6161},
  year   = {2014}
}

备注

25 pages, 8 figures