基于低温光电子发射电子显微镜的铁电畴壁静电势映射
材料科学
2020-01-15 v1
摘要
利用低温 X 射线光电子发射电子显微镜（X-PEEM）测量了非本征铁电体 Er0.99Ca0.01MnO3 中畴壁的电势。通过将 X-PEEM 与扫描探针显微镜及理论相结合，我们建立了一种模型，将检测到的 X-PEEM 衬度与未补偿束缚电荷的出现联系起来，并基于本征电子畴壁性质解释了图像形成机制。与先前应用的低温静电力显微镜（EFM）不同，X-PEEM 可轻易区分畴壁处正负束缚电荷。我们的研究引入了基于 X-PEEM 的低温静电势映射方法，可实现纳米级空间分辨率及约 0.1–1 秒量级的数据采集时间。
引用
@article{arxiv.2001.04894,
title = {Electrostatic potential mapping at ferroelectric domain walls by low-temperature photoemission electron microscopy},
author = {J. Schaab and K. Shapovalov and P. Schoenherr and J. Hackl and M. I. Khan and M. Hentschel and Z. Yan and E. Bourret and C. M. Schneider and S. Nemsák and M. Stengel and A. Cano and D. Meier},
journal= {arXiv preprint arXiv:2001.04894},
year = {2020}
}
备注
15 pages, 6 figures