阴影X射线磁圆二色性光电子发射电子显微镜的定量分析
材料科学
2015-11-04 v2
摘要
阴影X射线磁圆二色性光电子发射电子显微镜(XMCD-PEEM)是一种近期技术，其中位于表面上的物体阴影中的光子强度，可用于收集物体内部三维磁化纹理的信息。我们此处的目的是为这一技术的定量分析奠定基础。我们首先讨论一种模拟任意微磁状态预期衬度的方法的原理与实现。随后给出教科书式例子并与实验的成功比较。最后讨论了仪器设置，它们影响衬度与空间分辨率：光子能量、显微镜提取电压与聚焦平面、显微镜背景水平、与三维物体相关的电场畸变、菲涅尔衍射或光子散射。
引用
@article{arxiv.1506.02866,
title = {Quantitative analysis of shadow X-ray Magnetic Circular Dichroism Photo-Emission Electron Microscopy},
author = {S. Jamet and S. Da Col and N. Rougemaille and A. Wartelle and A. Locatelli and T. O. Menteş and B. Santos Burgos and R. Afid and L. Cagnon and J. Bachmann and S. Bochmann and O. Fruchart and J. C. Toussaint},
journal= {arXiv preprint arXiv:1506.02866},
year = {2015}
}