微焊接石墨烯的电输运与低温扫描隧道显微镜研究
介观与纳米尺度物理
2010-06-10 v1 材料科学
摘要
利用最近发展的微焊接技术，我们对PMMA对石墨烯薄片的影响进行了系统的输运研究，揭示了高达3.8x10^12 1/cm^2的掺杂效应，但对迁移率和栅压引起的磁滞影响可忽略不计。此外，我们表明微焊接的石墨烯没有污染，并且表现出与光刻接触的薄片非常相似的内在波纹。最后，我们展示了电流诱导的先前在扫描隧道谱实验中发现的声子隙的闭合、较高偏压下可能由薄片振动引起的强非线性特征，以及归因于石墨烯0.朗道能级的B场诱导双峰。
引用
@article{arxiv.0912.2218,
title = {Electrical transport and low-temperature scanning tunneling microscopy of microsoldered graphene},
author = {V. Geringer and D. Subramaniam and A. K. Michel and B. Szafranek and D. Schall and A. Georgi and T. Mashoff and D. Neumaier and M. Liebmann and M. Morgenstern},
journal= {arXiv preprint arXiv:0912.2218},
year = {2010}
}
备注
8 pages, 3 figures