跨越金属/二维碳结的电输运：边缘接触与侧面接触
介观与纳米尺度物理
2012-02-06 v1
摘要
利用纳米探针在超高真空环境中表征了金属/二维碳结。发现边缘接触和侧面接触的微分电导（dI/dV）对偏置电压（V）的依赖性存在显著差异：前者表现出清晰的线性关系（即 dI/dV \propto V），而后者则表现为非线性依赖，dI/dV \propto V3/2。理论计算证实了实验结果，这是由于所研究碳材料稳健的二维性质所致。我们的工作证明了接触几何形状在基于石墨烯的电子器件中的重要性。
引用
@article{arxiv.1202.0615,
title = {Electrical transport across metal/two-dimensional carbon junctions: Edge versus side contacts},
author = {Yihong Wu and Ying Wang and Jiayi Wang and Miao Zhou and Aihua Zhang and Chun Zhang and Yanjing Yang and Younan Hua and Baoxi Xu},
journal= {arXiv preprint arXiv:1202.0615},
year = {2012}
}