二能级系统饱和对约瑟夫森结量子比特中电荷噪声的影响
介观与纳米尺度物理
2011-11-10 v1
摘要
我们表明，利用平坦态密度，约瑟夫森量子比特中的电荷噪声 可由基底中具有电偶极矩的涨落二能级系统 (TLS) 产生。在高频下，电荷噪声的频率和温度依赖性取决于电磁通量 与临界通量 的比值 。人们尚未广泛认识到，小量子比特中的 TLS 很容易在 时被强烈饱和。我们的结果与以下实验结论一致：低频下 ，高频下 。
引用
@article{arxiv.0707.1514,
title = {Effect of Two Level System Saturation on Charge Noise in Josephson Junction Qubits},
author = {Clare C. Yu and Magdalena Constantin and John M. Martinis},
journal= {arXiv preprint arXiv:0707.1514},
year = {2011}
}
备注
4 pages