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通量子比特中损耗机制的表征

量子物理 2023-02-17 v1

摘要

利用具有约瑟夫森能量原位可调性的通量子比特,我们表征了其在不同磁通偏置及不同约瑟夫森能量值下的能量弛豫。在跨越热能量 kBTk_B T 一个数量级以上的比特能量值处,弛豫率可由介电损耗与具有交叉点的 1/f1/f 磁通噪声的组合定量解释。该 1/f1/f 磁通噪声的幅值与在磁通敏感点处从比特退相干测量提取的结果一致。在介电损耗主导区,损耗与电偶极相互作用引起的双能级系统(TLS)缺陷损耗一致。特别地,随着约瑟夫森能量增大从而磁通不敏感点处比特频率降低,我们发现比特与 TLS 缺陷的耦合逐渐减弱,这有利于高保真度量子操作。

关键词

引用

@article{arxiv.2302.08110,
  title  = {Characterization of loss mechanisms in a fluxonium qubit},
  author = {Hantao Sun and Feng Wu and Hsiang-Sheng Ku and Xizheng Ma and Jin Qin and Zhijun Song and Tenghui Wang and Gengyan Zhang and Jingwei Zhou and Yaoyun Shi and Hui-Hai Zhao and Chunqing Deng},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2302.08110},
  year   = {2023}
}