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光子Floquet拓扑绝缘体中的动态缺陷

光学 2017-08-08 v1 量子物理

摘要

拓扑绝缘体中的边缘模式已知对缺陷具有鲁棒性。我们研究当缺陷不是静态的而是随时间变化时,这是否也成立。我们研究了在螺旋弯曲波导的Floquet系统中,具有时变耦合的缺陷对沿边缘传输鲁棒性的影响。波导阵列通过负性光刻胶中的直接激光写入制备。我们发现单个动态缺陷不会破坏手性边缘电流,即使时间调制很强。体和边缘波导中强度的定量数值模拟证实了我们的观察。

关键词

引用

@article{arxiv.1704.00533,
  title  = {Dynamic defects in photonic Floquet topological insulators},
  author = {Christina Jörg and Fabian Letscher and Michael Fleischhauer and Georg von Freymann},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1704.00533},
  year   = {2017}
}