利用单个衍射图直接鉴定单层二硒化铼
材料科学
2017-05-08 v2
摘要
在当前过渡金属硫族化合物(transition metal dichalcogenides, TMDCs)的广泛研究中，与石墨烯、hBN和MoS2等六方层状材料相比，低对称性层状二维晶体在各向异性器件应用中展现出巨大潜力。二硒化铼(Rhenium diselenide, ReSe2)具有体相空间群P1，属于三斜晶系，具有变形的碘化镉型结构。本文中，我们利用单个电子衍射图明确确定了二硒化铼薄膜的单层及其垂直取向，该方法可适用于低对称性晶系，包括三斜和单斜晶格，只要其第三晶胞基矢不垂直于基面。我们采用探针校正环形暗场扫描透射电子显微镜(annular dark field scanning transmission electron microscope, ADF-STEM)的原子级分辨图像来验证层数。最后，实验结果通过运动学电子衍射理论及相应模拟得到了很好的解释。
引用
@article{arxiv.1612.08782,
title = {Direct identification of monolayer rhenium diselenide by an individual diffraction pattern},
author = {Zhen Fei and Ching-Hwa Ho and Fang Lin and Jun Yuan and Ze Zhang and Chuanhong Jin},
journal= {arXiv preprint arXiv:1612.08782},
year = {2017}
}
备注
11 pages, 4 figures