基于嵌套能带反转面的高阶拓扑绝缘体的直接动力学表征
介观与纳米尺度物理
2021-07-02 v2
摘要
高阶拓扑绝缘体(HOTIs)是指具有拓扑保护的带隙内边界态的系统,这些边界态局域于其 维边界上,其中 为系统维度, 为拓扑阶数。本工作提出一种基于动力学的、相当通用的表征方法,用于一大类 型高阶拓扑绝缘体,且无需特别依赖任何对称性考虑。我们这一创新方法的关键要素,是将量子淬火动力学与动量空间哈密顿量作为 Clifford 代数算符之和(该条件可放宽)的所谓能带反转面(BISs)的嵌套构型相联系,从而能够以平等方式动力学探测每一阶拓扑。鉴于合成拓扑物质的实验可直接测量某些赝自旋纹理的绕数以确定 BISs 的拓扑特征,通过嵌套 BISs 定义的拓扑不变量均在正在进行中的实验可及范围之内。此外,定义高阶拓扑时具备嵌套 BISs 的必要性,为研究和设计高阶拓扑相变提供了独特视角。
引用
@article{arxiv.2007.05759,
title = {Direct dynamical characterization of higher-order topological insulators with nested band inversion surfaces},
author = {Linhu Li and Weiwei Zhu and Jiangbin Gong},
journal= {arXiv preprint arXiv:2007.05759},
year = {2021}
}
备注
15 pages and 7 figures in total. Comments are welcome