金刚石中间接激子的扩散相关寿命
材料科学
2020-11-25 v1
摘要
我们研究了采用化学气相沉积法生长的极高纯度金刚石中间接激子的寿命。由于有效地不存在杂质陷阱，利用双折射评估的小应变（量级 10）与寿命之间发现了明确关联。为解释温度依赖的寿命，提出了一种表面复合模型，该模型针对由激子扩散引起的位错处非辐射复合进行了扩展。基于推导出的辐射寿命，我们的模型能够预测任意温度下的寿命以及金刚石中激子发光可达到的最高内量子效率，这通常可适用于具有高空穴束缚能的广泛材料。
引用
@article{arxiv.2009.14351,
title = {Diffusion-related lifetime of indirect excitons in diamond},
author = {K. Konishi and I. Akimoto and J. Isberg and N. Naka},
journal= {arXiv preprint arXiv:2009.14351},
year = {2020}
}