制备-测量场景中的设备无关维度测试
量子物理
2016-11-02 v2 计算复杂性
信息论
math.IT
摘要
以设备无关的方式，即仅使用测量统计量，分析未知量子系统的维度，是量子物理与量子信息论中的一项基本任务。在本文中，我们在制备-测量场景下考虑这一问题。具体而言，我们给出了所制备量子系统维度的一个下界，该下界是一个仅依赖于测量统计量的函数。此外，我们表明我们的界在几个示例中表现良好。特别地，我们表明我们的界为维度见证（dimension witness）的概念提供了新见解，并且我们还利用它表明受限维度的制备-测量关联集合并不总是凸的。
引用
@article{arxiv.1606.03878,
title = {Device-independent dimension tests in the prepare-and-measure scenario},
author = {Jamie Sikora and Antonios Varvitsiotis and Zhaohui Wei},
journal= {arXiv preprint arXiv:1606.03878},
year = {2016}
}
备注
To appear in Phys. Rev. A