最大 CP 违背时中微子质量纹理的确定

我们给出一种中微子质量矩阵（M）的通用形式，其矩阵元用 M_{ij} (i,j=e,μ,τ) 表示为味型中微子质量，能够产生最大 CP 违背以及最大大气中微子混合。对于给定的混合角度，M_{μμ}、M_{ττ} 和 M_{μτ}+σ M_{ee} (σ=±1) 完全由 M_{eμ} 和 M_{eτ} 决定。我们发现 CP 违背源于 M 与其破缺部分之间的干涉。若满足 |M_{eμ}|=|M_{eτ}|，即 M_{eμ}=-σ e^{iθ} M_{eτ} 或 M_{eμ}=-σ e^{iθ} M*_{eτ} 其中 θ 为相位参数，则也满足 |M_{μμ}|=|M_{ττ}|。这两个约束可视为 M_{eμ}=-σ M_{eτ} 和 M_{μμ}=M_{ττ} 约束的扩展版本。若 arg(M_{μτ})≠arg(M_{eμ})+θ/2 (对应 M_{eμ}=-σ e^{iθ} M_{eτ}) 或 arg(M_{μτ})≠θ/2 (对应 M_{eμ}=-σ e^{iθ} M*_{eτ})，则马约拉na CP 违背才会显现。