利用显微拉曼光谱测定双层石墨烯的边缘纯度
介观与纳米尺度物理
2015-05-19 v1 材料科学
摘要
在双层石墨烯的边缘进行了偏振分辨显微拉曼光谱测量。我们发现G带的强度强烈依赖于入射激光偏振，其强度依赖关系在扶手椅型和锯齿型边缘情况下相位相差90度，与理论预测一致。对于混合态边缘，我们证明了偏振对比度反映了扶手椅型和锯齿型边缘的分数组成，从而提供了一种监测边缘纯度的方法，这是开发高效纳米电子器件的重要参数。
引用
@article{arxiv.1006.5738,
title = {Determination of Edge Purity in Bilayer Graphene Using micro-Raman Spectroscopy},
author = {Milan Begliarbekov and Onejae Sul and Sokratis Kalliakos and Eui-Hyeok Yang and Stefan Strauf},
journal= {arXiv preprint arXiv:1006.5738},
year = {2015}
}
备注
3 pages, 3 figures, to appear in Applied Physics Letters