X射线吸收精细结构中的去卷积问题

考虑了贝叶斯方法在EXAFS谱去卷积中的应用。表明就EXAFS谱学目的而言，从无限多的贝叶斯解中可能确定一个最优解范围，其中任一解均适用。由于这去除了对解唯一性的要求，从而可从EXAFS谱中排除仪器展宽与寿命展宽。此外，我们提出几种确定最优贝叶斯正则化参数的方法。将贝叶斯去卷积与利用傅里叶变换和最优维纳滤波的去卷积进行比较。表明XPS谱原则上可用于提取单电子吸收率。考虑并讨论了去卷积后获得的振幅修正因子。