FBK HD 近紫外灵敏 SiPM 的低温特性表征
仪器与探测器
2017-07-03 v2
摘要
我们报告了在低温下对 Fondazione Bruno Kessler (FBK) 开发的近紫外高密度硅光电倍增管 (SiPM) 的特性表征。搭建了一套专用装置，用于测量 SiPM 在 40 至 300 K 之间的初级暗噪声和相关噪声。此外，还开发了分析程序和数据采集系统，以精确表征这些参数，其中一些参数在室温与 40 K 之间可变化达 7 个数量级。我们证明，可以在低于 100 K 的温度下运行 FBK 近紫外高密度 SiPM，在 6 V 过偏压下，暗计数率低于 0.01 cps/mm²，总相关噪声概率低于 35%。这些结果对于未来使用 SiPM 作为光传感器的低温粒子探测器的发展具有重要意义。
引用
@article{arxiv.1610.01915,
title = {Cryogenic Characterization of FBK HD Near-UV Sensitive SiPMs},
author = {Fabio Acerbi and Stefano Davini and Alessandro Ferri and Cristiano Galbiati and Graham Giovanetti and Alberto Gola and George Korga and Andrea Mandarano and Marco Marcante and Giovanni Paternoster and Claudio Piemonte and Alessandro Razeto and Veronica Regazzoni and Davide Sablone and Claudio Savarese and Gaetano Zappalá and Nicola Zorzi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1610.01915},
year = {2017}
}