vicinal YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$ 薄膜的临界电流

目前对 YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$ 薄膜临界电流密度的大多数测量是在薄膜表面法向生长$c$-轴的薄膜上进行的。对于此类薄膜，分析 $j_c$ 随磁场角度的依赖性是复杂的。外在贡献导致的 $j_c$ 磁场角度依赖性（如测量几何和夹針中心的安排）与材料固有各向异性的效应交织在一起。因此，难以基于$c$-轴薄膜的角度临界电流密度测量来区分不同 FLL 结构模型。生长在错切( vicinal)基片上的薄膜具有较少的测量对称性，从而提供了对临界电流各向异性的更深入见识。本文回顾了关于 YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$ $j_c$ 磁场角度依赖性的先前描述。 presented 对生长在多种 vicinal 基片上的 YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$ 薄膜的测量结果，并以 YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$ 中的 FLL 结构和维度解释结果。强烈的证据表明，磁场大小、取向和温度都导致 FLL 结构的转变。因此，单凭 $j_c(\theta)$ 行为无法单独描述 YBa$_2$Cu$_3$O$_{7-\delta}$ 观察到的临界电流各向异性。成功地以 $j_c(\theta)$ 行为解释了 YBCO 在磁场取向靠近 $a-b$ 平面时平行于 $a-b$ 平面的场的 $j_c(\theta)$ 行为，采用 a kinked vortex structure。