中文

耦合势垒扩散:硅中氧的情况

凝聚态物理 2009-10-28 v1

摘要

硅中的氧迁移对应于相邻桥位之间的一个看似简单的跳跃。然而,迄今为止广泛的理论计算产生了相互矛盾的结果,并且未能对观测到的 2.52.5 eV 激活能给出令人满意的解释。我们报告了一套全面的第一性原理计算,这些计算表明,看似简单的氧跳跃实际上是一个涉及耦合势垒的复杂过程,并且可以用具有“鞍脊”的能量超曲面和约 2.5\sim 2.5 eV 的激活能进行定量描述。早期的计算对应于该超曲面上的不同点或线。

关键词

引用

@article{arxiv.cond-mat/9511110,
  title  = {Coupled-barrier diffusion: the case of oxygen in silicon},
  author = {Madhavan Ramamoorthy and Sokrates T. Pantelides},
  journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9511110},
  year   = {2009}
}

备注

4 Figures available upon request. Accepted for publication in Phys. Rev. Lett