神经元膜电位记录的卷积度量
神经元与认知
2014-09-09 v1
摘要
我提出了一种卷积度量，它以神经元膜电位记录为输入参数，比较其中的阈下特征以及尖峰的时间和数量——用记录之间的单个“距离”来总结这些差异。该度量基于 van Rossum 2001 年提出的尖峰序列度量，依赖于对输入数据执行的卷积运算。所选用的卷积核经过精心挑选，以产生理想的频域响应，并且与 van Rossum 的核不同，它使该度量在邻近尖峰时间的差异以及同一时刻膜电位值的差异上均具有一阶特性：这是一个重要特征。共 31 页，4 幅图。
引用
@article{arxiv.1409.2182,
title = {Convolution Metric for Neuron Membrane Potential Recordings},
author = {Garrett N. Evans},
journal= {arXiv preprint arXiv:1409.2182},
year = {2014}
}
备注
31 pages, 4 figures